半导体器件电离辐照损伤效应模拟的数值算法及应用

马召灿, 许竞劼, 卢本卓, 李鸿亮

数值计算与计算机应用 ›› 2020, Vol. 41 ›› Issue (2) : 105-120.

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数值计算与计算机应用 ›› 2020, Vol. 41 ›› Issue (2) : 105-120. DOI: 10.12288/szjs.2020.2.105
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半导体器件电离辐照损伤效应模拟的数值算法及应用

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NUMERICAL ALGORITHM AND APPLICATION IN SIMULATION OF RADIATION DAMAGE EFFECTS ON SEMICONDUCTOR DEVICES

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